時(shí)序測(cè)試 信號(hào)完整性測(cè)試 SI測(cè)試

信號(hào)完整性設(shè)計(jì)在產(chǎn)品開發(fā)中越來(lái)越受到重視，而信號(hào)完整性的測(cè)試手段種類繁多，有頻域，也有時(shí)域的，還有一些綜合性的手段，比如誤碼測(cè)試。這些手段并非任何情況下都適合使用，都存在這樣那樣的局限性，合適選用，可以做到事半功倍，避免走彎路。本文重點(diǎn)介紹時(shí)序測(cè)試測(cè)試手段及時(shí)序測(cè)試相關(guān)的設(shè)備。

時(shí)序測(cè)試的重要性？

在某產(chǎn)品測(cè)試過(guò)程中，工程師反饋偶爾會(huì)出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常，經(jīng)過(guò)系統(tǒng)性的分析，推測(cè)可能是ADC芯片的SPI通信總線的時(shí)序存在偶發(fā)異常。目前市場(chǎng)上元器件的工作速率越來(lái)越快，時(shí)序容限越來(lái)越小，時(shí)序問(wèn)題導(dǎo)致產(chǎn)品不穩(wěn)定是非常常見的，時(shí)序的一致性和穩(wěn)定性分析，一直以來(lái)都是業(yè)界難題，時(shí)序測(cè)試是非常必要的。

時(shí)序測(cè)試環(huán)境搭建？

測(cè)試時(shí)序通常需要多通道的示波器和多個(gè)探頭，示波器的邏輯觸發(fā)或者碼型和狀態(tài)觸發(fā)功能，對(duì)于快速捕獲到需要的波形，很有幫助，多個(gè)探頭在實(shí)際操作中，并不容易，又要拿探頭，又要操作示波器。

時(shí)序測(cè)試設(shè)備優(yōu)劣點(diǎn)比對(duì)--邏輯分析儀與示波器

邏輯分析儀用做時(shí)序測(cè)試并不多，因?yàn)樗饕饔檬欠治龃a型，也就是分析信號(hào)線上跑的是什么碼，和代碼聯(lián)系在一起，在對(duì)于要求不高的情況下，可以用它來(lái)測(cè)試，可以分析是哪些指令或者數(shù)據(jù)。

邏輯分析儀相對(duì)示波器來(lái)說(shuō)，優(yōu)勢(shì)就是通道數(shù)多，它的劣勢(shì)是探頭連接困難，除非設(shè)計(jì)的時(shí)候就已經(jīng)考慮了連接問(wèn)題，否則飛線就是唯一的選擇，如果信號(hào)線在PCB的內(nèi)層，幾乎很難做到。

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