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        電池污染物成分分析 電極異物EDS檢測分析

        廠家: 華瑞測分析
        型號: YW14
        周期: 3-7天
        單價: 150.00元/件
        發貨期限: 自買家付款之日起 天內發貨
        所在地: 廣東 深圳
        有效期至: 長期有效
        發布時間: 2023-11-10 09:52
        最后更新: 2023-11-10 09:52
        瀏覽次數: 421
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        詳細說明

        異物來源

        微量污染物分析服務場景:

          需要了解不明物質(粉體、顆粒等)是什么

          產品表面出現斑點、異物、析出物等,需要尋找根源,解決問題

          想了解產品純度,材質是什么

          需要了解某些物質的成分組成、元素、離子等含量

          研發實力不足,或研發進度較慢

          微量污染物分析手段:

          傅立葉變換顯微紅外光譜分析(FTIR)

          紅外顯微鏡

          顯微共焦拉曼光譜儀(Raman)

          掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)

          X射線熒光光譜分析(XRF)

          氣相色譜-質譜聯用儀(GC-MS)

          裂解氣相色譜-質譜聯用(PGC-MS)

          核磁共振分析(NMR)

          俄歇電子能譜分析(AES)

          X射線光電子能譜分析(XPS)

          X射線衍射儀(XRD)

          微量污染物檢測材質:

          各類高分子材料

          建筑助劑、紡織印染助劑

          表面處理、電鍍添加劑

          脫模劑、造紙助劑

          表面活性劑

          生物醫藥

          清洗劑

          

        XPS只是對物質表層進行分析(2-10 nm),且厚度不如EDX,也無法進行可視化操作。

          XPS廣泛使用的原因主要有以下幾點:

          ⑴可測除H、He以外的所有元素。檢測靈敏度約為0.1 at%。

          ⑵亞單層靈敏度;探測深度1~10nm,依賴材料和實驗參數。

          ⑶可元素定量分析。

          ⑷優異的化學信息,化學位移和衛星結構與完整的標準化合物數據庫的聯合使用。

          ⑸分析是非結構破壞的;X射線束損傷通常微不足道。

          ⑹詳細的電子結構和某些幾何信息。

          XPS元素分析適合分析材料:

          金屬、高分子等材料,薄膜,涂層等

          XPS元素分析應用領域:

          半導體技術、冶金、催化、礦物加工和晶體生長等

          更多關于 金屬材料表面元素分析 成分分析 XPS測試,請咨詢啟威測實驗室。


        更多關于微量污染物鑒定 成分分析,請聯系實驗室。


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