甘肅工字鋼化學(xué)成分分析廠家 第三方金屬測(cè)試中心
晶間腐蝕試驗(yàn)依據(jù)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)主要有：
ASTM A763-93(R2009)不銹鋼晶間腐蝕試驗(yàn)
ASTM G28-02(2008) 煅制高鎳鉻軸承合金晶間腐蝕敏感性的檢查用測(cè)試方法 方法A
GB/T21433-2008不銹鋼壓力容器晶間腐蝕敏感性檢驗(yàn)
GB/T 15260-1994鎳基合金晶間腐蝕A法
GB/T 26491-20115系鋁合金晶間腐蝕試驗(yàn)方法 質(zhì)量損失法
GB/T 7998-2005鋁合金晶間腐蝕測(cè)定方法
ASTM G110-1992(2009）用浸入氯化鈉+過氧化氫溶液的方法評(píng)定可熱處理鋁合金的晶間腐蝕
ASTM G123-2000(2011)評(píng)定沸騰酸化氯化鈉溶液中鎳含量不同的不銹合金應(yīng)力晶間腐蝕開裂
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鍍層厚度測(cè)試方法一般有：金相法、庫侖法或X-ray方法。
金相法:
利用金相顯微鏡原理，對(duì)鍍層厚度進(jìn)行放大，以便準(zhǔn)確的觀測(cè)及測(cè)量。
庫侖法:
利用適當(dāng)?shù)碾娊庖宏枠O溶解**限定面積的覆蓋層，電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實(shí)質(zhì)上完全溶解，經(jīng)過所耗的電量計(jì)算出覆蓋層的厚度。因陽極溶解的方法不同，被測(cè)量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。用恒定電流密度溶解時(shí)，可由試驗(yàn)開始到試驗(yàn)終止的時(shí)間計(jì)算；用非恒定電流密度溶解時(shí)，由累積所耗電量計(jì)算，累積所耗電量由電量計(jì)累計(jì)顯示。
X-ray 方法:
X射線光譜方法測(cè)定覆蓋層厚度是基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長(zhǎng)和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系。該關(guān)系由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，又給出實(shí)際的密度，則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。
部分參考標(biāo)準(zhǔn)：
金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量輪廓儀法 GB/T 11378-2005
金屬和其他非有機(jī)覆蓋層關(guān)于厚度測(cè)量的定義和一般規(guī)則 GB/T 12334-2001
真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法 電阻法 GB/T 15717-1995
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 X射線光譜方法 GB/T 16921-2005
金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法 GB/T 17722-1999
金屬與非金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 β射線背散射法 GB/T 20018-2005
金屬和非金屬基體上非磁性金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 相敏渦流法 GB/T 31554-2015
金屬覆蓋層 厚度測(cè)量 掃描電鏡法 GB/T 31563-2015
貴金屬復(fù)合材料覆層厚度的掃描電鏡測(cè)定方法 GB/T 38783-2020
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 陽極溶解庫侖法 GB/T 4955-2005
金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法 GB/T 6462-2005?
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氣體腐蝕試驗(yàn)依據(jù)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)主要有：
GB/T 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品（試驗(yàn)Ke）流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)方法
IEC 60068-2-60-1995環(huán)境試驗(yàn) 第2-60部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)Ke:流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)
ISO 16750-4-2006電氣和電子裝備的環(huán)境條件和試驗(yàn)-氣候環(huán)境
EIA-364-65A-1997電連器進(jìn)行混合氣體腐蝕試驗(yàn)
GB2423.51-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
ASTM B845-97(2008）混合流動(dòng)氣體腐蝕測(cè)試
